非接觸式IC卡,動作原理,錯誤修正,對策技術,系統(tǒng)特性
圖是非接觸式IC卡片用讀寫器(RW: Read & Writer)的動作原理，如圖所示非接觸式IC卡片本身并無電源，因此RW供應電源給IC卡片的同時還必需進行通信作業(yè)，RW與loop天線亦即IC卡片的天線變成電磁性結合狀態(tài)，RW利用13.56MHz的傳輸波供應電源給IC卡。
此時RW若傳送資料給IC卡片時，RW會傳輸變調(diào)度大約10%左右的ASK(振幅輸變)信號給IC卡片，IC卡片檢測該信號并轉(zhuǎn)換成資料；反之如果從IC卡片傳送資料給RW時，IC卡片變成從RW接收無變調(diào)信號狀態(tài)，接著利用IC卡片內(nèi)的變調(diào)器產(chǎn)生負載變動，RW將此負載變動當成自我loop天線，亦即RW的天線的電流、電壓變化檢測并將資料復調(diào)。表1是FeilCa的物理層與資料鏈層的主要規(guī)格。
介紹有關如何達成「完全無錯誤」的電路品質(zhì)與錯誤控制相關技術。最近幾年強大的錯誤修正技術，使得許多完全無錯誤化的要求獲得實現(xiàn)，由于非接觸式IC卡片通信系統(tǒng)的packet長度高達數(shù)百位元，因此錯誤修正效果幾乎被局限在隨機錯誤(random error)范圍，理論上如果能維持比較良好的位元錯誤率，會比采用低編碼效率與不良的修正碼更具實用效果，依此判斷研究人員最后決定采用低冗長度，而且可以對錯誤檢測碼進行再送控制的混合方式，事實上傳統(tǒng)FeilCa也是沿襲上述架構進行錯誤救濟再送控制。
不過上述方式回路的位元錯誤率會變差，而且再送次數(shù)則大幅增加，其結果反而會造成非接觸式IC卡通信系統(tǒng)的通信成功率惡化，例如packet長度為256進行2次再送時，為獲得通信錯誤率10-8，回路的位元錯誤率必需低于10-5，此時若以ASK的非同步檢波獲得10-5的位元錯誤率，S/N比大約需要15dB左右，如此才能確保RW的預期目標。實現(xiàn)以上位元錯誤率目標值的關鍵，是如何對策阻抗(impedance)特性變動的技術，具體內(nèi)容分別是:
‧非接觸式IC卡片特性變動的對策
‧RW設置環(huán)境的適應性
非接觸式IC卡片具備無形狀上限制等特徵，因此最近幾年甚至出現(xiàn)內(nèi)建非接觸式IC晶片的手表與list band等商品，依此觀之未來勢必推廣至移動電話等領域，然而RW的廣泛應用卻造成RW的相容性、如何同時辨識復數(shù)非接觸式IC卡片、如何設計復數(shù)RW之間不會相互干擾等問題成為重要課題，亦即今后必需克服以下問題:
‧支援多樣化媒體與周圍環(huán)境的適應性
‧復數(shù)非接觸式IC卡片的辨識能力
‧抑制復數(shù)RW之間相互干擾
