雙聯(lián)電位器的可靠性研究
雙聯(lián)電位器的可靠性研究
當(dāng)雙聯(lián)電位器旋轉(zhuǎn)時(shí)可出現(xiàn)四種狀態(tài)：即引腳3與引腳1相連，引腳3與引腳2及引腳1全相連；引腳3與引腳2相連，引腳3與引腳2及引腳1全斷開(kāi)。
在實(shí)際使用中，一般將引腳3接地作為數(shù)據(jù)輸入端。而引腳1、2作為可靠性,研究數(shù)據(jù)輸出端與單片機(jī)I/O 口相連。如圖2中所示，將引腳1與單片機(jī)的P1.0相連，引腳2與單片機(jī)的P1.1相連。當(dāng)雙聯(lián)電位器左旋或右旋時(shí)，P1.0和P1.1就會(huì)周期性地雙聯(lián)電位器產(chǎn)生圖1所示的波形，如果是12點(diǎn)的雙聯(lián)電位器旋轉(zhuǎn)一圈就會(huì)產(chǎn)生12組這樣的波形，24點(diǎn)的雙聯(lián)電位器就會(huì)產(chǎn)生24組這樣的波形
元器件可靠性問(wèn)題
元器件可靠性問(wèn)題即基本失效率的問(wèn)題，這是一種隨機(jī)性質(zhì)的失效，與質(zhì)量問(wèn)題的區(qū)別是元器件的失效率取決于工作應(yīng)力水平。在一定的應(yīng)力水平下，元器件的失效率會(huì)大大下降。為剔除不符合使用要求的元器件，包括電參數(shù)可靠性,研究不合格、密封性能不合格、外觀不合格、穩(wěn)定性差、早期失效等，應(yīng)進(jìn)行篩選試驗(yàn)，這是可靠性,研究一種非破壞性試驗(yàn)。通過(guò)篩選可使元器件失效率降低1～2個(gè)數(shù)量級(jí)，當(dāng)然篩選試驗(yàn)代價(jià)(時(shí)間與費(fèi)用)很大，但綜合維修、后勤保障、整架雙聯(lián)電位器聯(lián)試等還是合算的，研制周期也不會(huì)延長(zhǎng)。電源設(shè)備主要元器件的篩選試驗(yàn)一般要求：
①電阻在室溫下按技術(shù)條件進(jìn)行100％測(cè)試，剔除不合格品。
②普通電容器在室溫下按技術(shù)條件進(jìn)行100％測(cè)試，剔除不合格品。
③接插件按技術(shù)條件抽樣檢測(cè)各種參數(shù)。
④半導(dǎo)體器件按以下程序進(jìn)行篩選：
目檢初測(cè)高溫貯存高低溫沖擊電功率可靠性,研究老化高溫測(cè)試低溫測(cè)試常溫測(cè)試
篩選結(jié)束后應(yīng)計(jì)算剔除率Q 式中：N——受試樣品總數(shù)；n——被剔除的樣品數(shù)；
如果Q超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的上限值，則本批元器件全部不準(zhǔn)上機(jī)，并按有關(guān)規(guī)定處理。
在符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定時(shí)，則將篩選合格的元器件打漆點(diǎn)標(biāo)注，然后入專用庫(kù)房供裝機(jī)使用。
